确认位置
确认位置
Price Unit: 1000 PCS (1 KPCS)
产品特性
- 采用多样化的图像处理和算法,具备优越的缺陷辨别能力,确保检测精度
- 通过多种假缺陷防止解决方案,最大程度减少误检
- 利用优化的检测头和照明技术,实现高精度、高速检测
- 可在5秒内检测最大12英寸的面板
- 具备多种专用检测算法
- 内置防止检测过程中产生颗粒的机制
- 具备面板轴对准功能
- 检测数据自动提取,检测参数自动校正
- 采用用户友好的GUI界面,操作方便
检测项目
- 崩缺 (Chipping)
- 破裂 (Crack)
- 划痕 (Scratch)
- 污渍 (Smearing)
- 印刷缺陷 (Print Defect)
- 图标缺陷 (ICON Defect)
- 标志缺陷 (Logo Defect)
- 摄像孔缺陷 (Camera Hole Defect)
- 红外孔缺陷 (IR Hole Defect)
产品规格
| 面板尺寸 | - 压痕 (Stabbing, 찍힘) |
| 检测时间 | - 崩缺 (Chipping, 칩핑) - 破裂 (Crack, 깨짐) - 划痕 (Scratch, 스크래치) - 污渍 (Smearing, 얼룩) |
| 检测项目 | - 印刷缺陷 (Print Defect, 인쇄불량) · 图标缺陷 (ICON Defect) - 标志缺陷 (Logo Defect) - 摄像孔缺陷 (Camera Hole Defect) - LED 孔缺陷 (LED Hole Defect) - 红外孔缺陷 (IR Hole Defect) |
| 适用设备 | TSP/OLED/LCD |
Price Unit: 1000 PCS (1 KPCS)
产品特性
- 采用多样化的图像处理和算法,具备优越的缺陷辨别能力,确保检测精度
- 通过多种假缺陷防止解决方案,最大程度减少误检
- 利用优化的检测头和照明技术,实现高精度、高速检测
- 可在5秒内检测最大12英寸的面板
- 具备多种专用检测算法
- 内置防止检测过程中产生颗粒的机制
- 具备面板轴对准功能
- 检测数据自动提取,检测参数自动校正
- 采用用户友好的GUI界面,操作方便
检测项目
- 崩缺 (Chipping)
- 破裂 (Crack)
- 划痕 (Scratch)
- 污渍 (Smearing)
- 印刷缺陷 (Print Defect)
- 图标缺陷 (ICON Defect)
- 标志缺陷 (Logo Defect)
- 摄像孔缺陷 (Camera Hole Defect)
- 红外孔缺陷 (IR Hole Defect)
产品规格
| 面板尺寸 | - 压痕 (Stabbing, 찍힘) |
| 检测时间 | - 崩缺 (Chipping, 칩핑) - 破裂 (Crack, 깨짐) - 划痕 (Scratch, 스크래치) - 污渍 (Smearing, 얼룩) |
| 检测项目 | - 印刷缺陷 (Print Defect, 인쇄불량) · 图标缺陷 (ICON Defect) - 标志缺陷 (Logo Defect) - 摄像孔缺陷 (Camera Hole Defect) - LED 孔缺陷 (LED Hole Defect) - 红外孔缺陷 (IR Hole Defect) |
| 适用设备 | TSP/OLED/LCD |